Untersuchungen zur Validierung eines Spektrometers für die Charakterisierung von Infrarotstrahlern
Autoren: M. Sc. André Hüllmann, Dipl.-Ing. Mirko Albrecht, Prof. Dr.-Ing. Michael Gehde, Prof. Dr.-Ing. Andreas Seefried, M. Sc. Marios Constantinou
Der Beitrag gibt einen Überblick über die Bedeutung und Einflüsse des Strahlungsverhaltens von Infrarot-
Emittern und zeigt eine Messmethodik anhand erster experimenteller Ergebnisse auf. Der Fokus liegt auf der
Anwendung eines Spektrometers zur Ermittlung der Strahlungsintensität von kurz- und mittelwelligen Strahlern. Dabei wird sowohl das räumlich spektrale Abstrahlungsverhalten als auch die damit erzeugte Schmelzeschichtdicke betrachtet.
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